深圳稳定的大理石测量台比测台定制 大理石测微仪 不易变形
发货地址:广东省惠州市惠阳区
产品数量:9999.00个
价格:¥800.00 元/个 起
产地中国
精度00级
是否进口否
适用范围检验测量
误差0.003mm
大理石平台检测法使用简单,与精密测量仪器相比,易制造、成本低、维护、检修比较方便;采用标准件(量块等)进行比较测量,测量数据稳定可靠,能保证一定的测量精度。该测量精度取决于大理石平台及其他测量器具、工具的精度和选用的测量方法。一般情况下光隙法比指示器法精度高,移动方便、灵活,能够进行多种测量。不于测量空间几何量,还可以用光隙法和着法检测工件的平直度。因大多数采用间接测量,所以测量比较繁琐、计算比较复杂
大理石平台物理性能
平面度公差依:GB4987-85标准:
000级=1×(1+d/1000)um 00级=2×(1+d/1000)um
0级=4×(1+d/1000)um 1级=8×(1+d/1000)um
(d为对角线)(测量温度一般在20±2℃)
大理石平台比重:2970-3070kg/㎡抗压强度:245-254N/m线膨胀系数:4.61×10-6/℃,吸水率:<0.13%肖氏硬度:Hs70以上。

因为大理石平台、花岗石平台检测法简单、经济、能保证一定的测量精度,能测量一些通用量仪难以测量的工件,因而在大理石平台检测方面得到了广泛的应用。
大理石平台检测法是以平板为工作台,在大理石工作台上按装工件、小方铁、方箱、圆柱角尺等精密量具、表架及其他工具并对被测件进行测量;充分利用圆柱、钢球半径在各个方向相等,且接触点处的半径和接触面垂直的特点,将圆柱、钢球靠在被测面上后可以达到改变测量方箱的目的;充分利用大理石平板作为基准平面的特点,从任何位置测量出被测件各个不同点、线、面对同一平面的高度值。

大理石平台检测法使用简单,与精密测量仪器相比,易制造、成本低、维护、检修比较方便;采用标准件(量块等)进行比较测量,测量数据稳定可靠,能保证一定的测量精度。该测量精度取决于大理石平台及其他测量器具、工具的精度和选用的测量方法。一般情况下光隙法比指示器法精度高,移动方便、灵活,能够进行多种测量。不于测量空间几何量,还可以用光隙法和着法检测工件的平直度。因大多数采用间接测量,所以测量比较繁琐、计算比较复杂。

大理石比测台是用的石质材料制成的精密基准测量工具,对仪器仪表、精密工具、机械制件的检验,都是理想的基准面,特别是大理石比测台,经过亿万年自然时效,形态较为稳定,不用担心因常规的温差而发生变形。
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